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 紫外线强度计原理
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紫外线强度计原理
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
性能指标：
波长范围及峰值波长：
探头：（光谱响应曲线）
       λ：(320～400)nm；λP＝365nm
探头：（光谱响应曲线）
       λ：(375～475)nm；λP＝420nm
辐照度测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外带外区杂光：小于0.02％
准确度：±10％
角度响应特性：，，二，光照度计标准
响应时间：1秒
环境温度：(0~40)℃；
环境湿度：＜85％RH
尺    寸：180mm×80mm×36mm；
重    量：0.2kg
电    源：9V积层电池一只